- 博士課程前期2年 出口 慶明さん，博士課程前期1年 溝口 恭史さんがIEEE EDS Japan Chapter Student Awardを受賞しました．
- 竹内研究室の博士課程前期2年 出口 慶明さん，博士課程前期1年 溝口 恭史さんがIEEE EDS Japan Chapter Student Award ( https://www.ieee-jp.org/section/tokyo/chapter/ED-15/index.html ) を受賞しました．
- 好評は2018年2月2日のIEEE EDS Japan Chapter総会で行われます．
発表者：出口 慶明 学会名：IEEE Symposium on VLSI Technologies (2017年6月開催) 論文タイトル：
Flash Reliability Boost Huffman Coding (FRBH): Co-Optimization of Data Compression and VTH Distribution Modulation to Enhance Data-Retention Time by Over 2900x
発表者：溝口 恭史 学会名：IEEE International Electron Devices Meeting（IEDM）(2017年12月開催) 論文タイトル：
Lateral Charge Migration Suppression of 3D-NAND Flash by Vth Nearing for Near Data Computing